Everix Ultradünner Notchfilter 785 nm D=12.5mm
Produktinformationen "Everix Ultradünner Notchfilter 785 nm D=12.5mm"
≥ OD 6 @ 785 nm
CWL 785,0 ± 15,7 nm
FWHM: 62,80 nm (max.)
Tavg >85% @ 400 - 741,8 nm & 828,2- 1200 nm
max. Dicke: 300 µm
freie Apertur: >90%
Durchmesser 12,5 (+0,1/-0,2) mm
CWL 785,0 ± 15,7 nm
FWHM: 62,80 nm (max.)
Tavg >85% @ 400 - 741,8 nm & 828,2- 1200 nm
max. Dicke: 300 µm
freie Apertur: >90%
Durchmesser 12,5 (+0,1/-0,2) mm